カラツ, オサム
唐津, 修(1947-)
著者名典拠詳細を表示
| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | SRC:論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著](岩波書店, 1985.5):奥付(唐津修:からつ・おさむ:1947年生れ.現在,日本電信電話株式会社厚木電気通信研究所集積応用研究室研究専門調査役.専攻,VLSIアーキテクチャ・VLSI設計手法・VLSI CADシステム) |
| 生没年等 | 1947 |
| コード類 | 典拠ID=AA00127861 NCID=DA08250748 |
| 1 | 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著] 4 VLSI ノ セッケイ. - 東京 : 岩波書店 , 1985.5 |