ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)
資料種別 | 図書 |
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出版者 | 東京 : 岩波書店 |
出版年 | 1985.5 |
大きさ | x,313p ; 22cm |
本文言語 | 日本語 |
書誌ID | BK00022077 |
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配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 状 態 | 利用注記 | コメント | 資料番号 | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 |
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書庫1F(開架) |
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N549=8=4 |
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03500134498 |
書誌詳細を非表示
著者標目 | 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム> |
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一般注記 | 参考書:p.303-305 |
件 名 | NDLSH:集積回路 |
分 類 | NDC8:549 NDC8:549.08 NDC7:549.92 NDLC:ND351 NDLC:ND386 |
巻冊次 | ISBN:9784000101844 ; PRICE:3300円 ; XISBN:4000101846 4 VLSI ノ セッケイ ; PRICE:3300円 |
NCID | BN00059257 |