シンリ テスト ノ カクリツ モデル
心理テストの確率モデル / ゲオルク・ラッシュ著 ; 内田良男監訳
| 資料種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 名古屋 : 名古屋大学出版会 |
| 出版年 | 1985.8 |
| 大きさ | xxviii,237p ; 21cm |
| 本文言語 | 日本語 |
| 書誌ID | BK00129291 |
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 状 態 | 利用注記 | コメント | 資料番号 | 請求メモ | 予約 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 書庫1F(開架) |
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N140.7==23 |
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03501368446 |
書誌詳細を非表示
| 別書名 | 原タイトル:Probabilistic models for some intelligence and attainment tests |
|---|---|
| 著者標目 | *Rasch, G. (Georg), 1901- 内田, 良男 <ウチダ, ヨシオ> |
| 一般注記 | 著者の肖像あり 文献:p229〜231 |
| 件 名 | NDLSH:精神測定 |
| 分 類 | NDC8:140.7 NDLC:SB31 |
| 巻冊次 | ISBN:9784930689351 ; XISBN:493068935X |