このページのリンク

ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)

資料種別 図書
出版者 東京 : 岩波書店
出版年 1985.5
大きさ x,313p ; 22cm
本文言語 日本語
書誌ID BK00022077

所蔵情報を非表示

書庫1F(開架)
N549=8=4

03500134498

書誌詳細を非表示

著者標目  樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ>
 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ>
 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム>
一般注記 参考書:p.303-305
件 名 NDLSH:集積回路
分 類 NDC8:549
NDC8:549.08
NDC7:549.92
NDLC:ND351
NDLC:ND386
巻冊次 ISBN:9784000101844 ; PRICE:3300円 ; XISBN:4000101846
4 VLSI ノ セッケイ ; PRICE:3300円
NCID BN00059257 WCLINK

 類似資料