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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修[著] T2 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 A1 樹下, 行三(1936-) A1 浅田, 邦博 A1 唐津, 修(1947-) YR 1985 FD 1985.5 VO 4 VLSI ノ セッケイ SP x,313p K1 集積回路 PB 岩波書店 PP 東京 SN 9784000101844 LA Japanese (日本語) CL NDC8:549 CL NDC8:549.08 CL NDC7:549.92 CL NDLC:ND351 CL NDLC:ND386 NO 参考書:p.303-305 NO 書誌ID=BK00022077; NCID=BN00059257; LK [OPAC]https://library.kobe-cufs.ac.jp/opac/opac_link/bibid/BK00022077 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BN00059257; [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/EqualFromForm?txt_isbn=9784000101844 OL 58