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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 日米のテスト戦略 : ハイステイクス・テスト導入の経緯と実態 / 北野秋男著 A1 北野, 秋男(1955-) YR 2011 FD 2011.10 SP vii, 165p K1 学力検査 K1 日本 -- 教育 K1 アメリカ合衆国 -- 教育 PB 風間書房 PP 東京 SN 9784759918793 LA Japanese (日本語) CL NDC9:375.17 NO 文献あり NO 書誌ID=BK00231729; NCID=BB07285919; LK [OPAC]https://library.kobe-cufs.ac.jp/opac/opac_link/bibid/BK00231729 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BB07285919; [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/EqualFromForm?txt_isbn=9784759918793 OL 58